Дата рождения: 18.07.1973
E-mail:
Ключевые слова: техническая диагностика, цифровая схема, генерация тестов, моделирование, генетический алгоритм, симуляция отжига, параллельные вычисления.

Основные темы научной работы:

Моделирование и тестирование цифровых схем, генетические алгоритмы, алгоритмы симуляции отжига, параллельные алгоритмы.

Основные публикации:

1. Y.A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov, “Evolutionary distributed test generation methods for digital circuits”, Proc. of 8th International Workshop on Boolean Problems (September 18–19, 2008, Freiberg, Germany), 213–218
2. D.E. Ivanov, “Ivanov Parallel fault simulation on multi-core processors”, Радiоелектроннi i комп’ютернi системи, 6:40 (2009), 109–112
3. Skobtsov Y.A., El-Khatib, Ivanov D.E., “Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits”, Proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference, Tallinn Technical University, 2006, 281–284
4. Y.A. Skobtsov, D.E. Ivanov, V.Y. Skobtsov, R. Ubar, J. Raik, “Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST”, 10 European Test Symposium. Informal Digest of Papers. Digest of Papers, 151–155
5. Д.Е. Иванов, “Алгоритм параллельного вычисления оценок особей при верификации эквивалентности последовательностных схем”, Проблемы информационных технологий, 1:005 (2009), 105–112

Публикации в базе данных Math-Net.Ru

Персональные страницы:

• 
• 
• 

Организации:

• Институт прикладной математики и механики, г. Донецк