Аннотация:
Предложен новый бесконтактный эллипсометрический метод, позволяющий определить диэлектрическую и магнитную проницаемости среды. Метод может применяться для определения параметров сверхпроводящих материалов вблизи точки перехода в сверхпроводящее состояние, а также для контролирования синтеза таких материалов.