А. П. Шевелько, “Спектроскопическая диагностика высокотемпературной лазерной плазмы вольфрама с помощью метода сравнения”, Квантовая электроника, 54:1 (2024), 1

Письма

Спектроскопическая диагностика высокотемпературной лазерной плазмы вольфрама с помощью метода сравнения

А. П. Шевелько

Физический институт им. П.Н.Лебедева РАН, Россия, 119991 Москва

Аннотация: Проведено детальное исследование структуры и абсолютных интенсивностей линий в рентгеновских спектрах лазерной плазмы вольфрама. Плазма создавалась фокусировкой лазерного импульса (0.53 мкм, 5 Дж, 2 нс) на массивные твердотельные мишени. Спектры регистрировались двумя фокусирующими кристаллическими спектрометрами в диапазоне длин волн λ = 4 – 8 Å со спектральным разрешением λ/δλ = 600 – 1500. Диагностика плазмы проводилась по спектрам [He]-подобных ионов легких элементов. Измерена абсолютная спектральная яркость источника, а с помощью метода сравнения проведена оценка температуры электронов плазмы вольфрама в диапазоне T_е = 500 – 750 эВ.

Ключевые слова: лазерная плазма, диагностика высокотемпературной плазмы, рентгеновская спектроскопия и метрология, многозарядные ионы, рентгеновские спектрометры.

Поступила в редакцию: 27.03.2024