ФИЗИКА. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ

Влияние асимметрической дифракции на спектрально-угловую плотность КРИ релятивистского электрона в трехслойной структуре

А. В. Носков^a, С. В. Блажевич^b, А. И. Чуева^b, Д. Д. Мачукаев^c, В. К. Киперша<sup>c

a</sup> Московский технический университет связи и информатики
^b Белгородский государственный национальный исследовательский университет
^c Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова

Аннотация: Работа посвящена исследованию возможности проявления эффекта асимметрической дифракции в когерентном рентгеновском излучении релятивистских электронов в периодической слоистой среде с тремя слоями в периоде. Когерентное рентгеновское излучение рассматривается как сумма параметрического рентгеновского излучения и дифрагированного переходного излучения. Получены и исследованы выражения, описывающие спектрально-угловые плотности когерентного рентгеновского излучения.

Ключевые слова: периодическая слоистая структура, динамическая дифракция, когерентное рентгеновское излучение, асимметрическая дифракция.

Поступила в редакцию: 30.03.2025
Принята в печать: 30.03.2025

DOI: 10.52575/2687-0959-2025-57-1-59-67