RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2026, том 52, выпуск 4, страницы 37–41 (Mi pjtf9732)

Электронно-микроскопический анализ зоны контакта плазменное покрытие–подложка

И. В. Баклушинаa, В. Е. Громовa, Ю. Ф. Ивановb, И. Ю. Литовченкоc, А. С. Чапайкинa

a Сибирский государственный индустриальный университет, Новокузнецк, Россия
b Институт сильноточной электроники СО РАН, Томск, Россия
c Институт физики прочности и материаловедения СО РАН, Томск, Россия

Аннотация: Методами современного физического материаловедения исследованы структурно-фазовые состояния и элементный состав переходной зоны контакта плазменное покрытие (быстрорежущая молибденовая сталь)-подложка (среднеуглеродистая сталь). Установлено, что переходный слой толщиной $\sim$100 $\mu$m содержит $\alpha$-фазу, $\gamma$-фазу, карбиды сложного состава $M_{23}$С$_6$, $M_6$С, а также МоС и цементит.

Ключевые слова: быстрорежущая молибденовая сталь, система плазменное покрытие-подложка, зона контакта, структура, фазовый состав.

Поступила в редакцию: 25.06.2025
Исправленный вариант: 28.10.2025
Принята в печать: 28.10.2025

DOI: 10.61011/PJTF.2026.04.62324.20416



© МИАН, 2026