Изменение скорости поворота кристаллической решетки в сферолитовых тонких пленках с увеличением толщины

И. П. Пронин^a, Е. Ю. Каптелов^a, С. В. Сенкевич^a, М. В. Старицын^b, В. П. Пронин^c, С. А. Немов<sup>d

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
^b НИЦ "Курчатовский институт" – ЦНИИ конструкционных материалов "Прометей" им. И.В. Горынина, Санкт-Петербург, Россия
^c Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
^d Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Методом дифракции обратно рассеянных электронов исследована толщинная зависимость скорости (градиента) поворота кристаллической решетки в субмикронных пленках цирконата-титаната свинца, отличающихся сферолитовой микроструктурой. Анализ этой зависимости показал, что уменьшение толщины пленок приводит к появлению пластической деформации, обсуждаются механизмы ее формирования.

Ключевые слова: сферолитовая микроструктура, тонкие пленки цирконата-титаната свинца, ротационные кристаллы, дифракция обратно рассеянных электронов.

Поступила в редакцию: 04.09.2025
Исправленный вариант: 02.10.2025
Принята в печать: 02.10.2025

DOI: 10.61011/PJTF.2026.03.62181.20491

Реферативные базы данных:

•