Аннотация:
Исследована фотолюминесценция (ФЛ) наногетероструктур Cd$_x$Hg$_{1-x}$Te/Cd$_y$Hg$_{1-y}$Te, выращенных на подложках CdTe/ZnTe/GaAs методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Ширина потенциальных ям в структурах варьировалась от 12 до 200 nm при составе в яме $x\sim$ 0.25–0.40 и в барьерных слоях $y\sim$ 0.68–0.82. В структурах с ямами шириной 33 nm и менее наблюдались переходы между уровнями размерного квантования носителей. В структурах с ямами шириной более 50 nm наблюдалась ФЛ экситонов, локализованных флуктуациями состава, характерная для эпитаксиальных слоев Cd$_x$Hg$_{1-x}$Te толщиной более 3 $\mu$m. Показано влияние на уширение пика экситонной ФЛ Cd$_x$Hg$_{1-x}$Te не только стохастических флуктуаций состава, но и его макроскопических неоднородностей.