RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2010, том 36, выпуск 23, страницы 24–30 (Mi pjtf9688)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Оптическая анизотропия InAs квантовых точек

С. А. Блохинa, А. М. Надточийa, А. А. Красивичевa, Л. Я. Карачинскийa, А. П. Васильевa, М. В. Максимовa, А. Е. Жуковa, Н. Н. Леденцовab, В. М. Устиновa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b VI Systems GmbH, Hardenbergstrasse 7, Berlin, 10623, Federal Republic of Germany

Аннотация: С помощью спектроскопии фотолюминесценции проведены поляризационные исследования InAs квантовых точек (КТ), синтезированных с помощью непрерывного либо субмонослойного осаждения InAs на сингулярной поверхности GaAs (100). Обнаружено, что изолированный массив КТ, сформированных в режиме непрерывного осаждения, обладает слабой ($<$ 1–2%) оптической анизотропией, тогда как вертикальное совмещение подобных КТ (спейсерные слои менее 15 mm) приводит к 8%-ной линейной поляризации вдоль кристаллографического направления [011]. В случае КТ, сформированных в режиме субмонослойного осаждения, выявлена сильная (17–20%) оптическая анизотропия излучения с основного и возбужденных состояний КТ вдоль кристаллографического направления [011].

Поступила в редакцию: 30.07.2010


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2010, 36:12, 1079–1081

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026