Эта публикация цитируется в 12 статьях

Получение и использование позиционных меток в сканирующей зондовой микроскопии

В. Н. Лозовский, С. Н. Чеботарев, В. А. Ирха, Г. В. Валов

Южно-Российский государственный университет (Новочеркасский политехнический институт), Новочеркасск

Аннотация: Описывается разработанный авторами способ получения на поверхности 1D- и 2D-объектов специальных позиционных меток, позволяющих фиксировать локальные области исследований с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Демонстрируется эффективность использования позиционных меток в практике зондовых исследований на уровне наномасштабов.

Поступила в редакцию: 19.03.2010

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2010, 36:8, 737–738

Реферативные базы данных:

•