К. Н. Ермаков, Н. А. Иванов, О. В. Лобанов, В. В. Пашук, М. Г. Тверской, С. М. Любинский, “Экспериментальное исследование воздействия протонов на приборы с зарядовой связью”, Письма в ЖТФ, 2010, том 36, выпуск 13,страницы 54

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Экспериментальное исследование воздействия протонов на приборы с зарядовой связью

К. Н. Ермаков^ab, Н. А. Иванов^ab, О. В. Лобанов^ab, В. В. Пашук^ab, М. Г. Тверской^ab, С. М. Любинский^ab

^a Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова РАН, Гатчина
^b Научно-исследовательский институт телевидения, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Исследовано воздействие протонов с энергией 1000 MeV на датчики изображения на основе приборов с зарядовой связью (CCD-матриц), которые в составе различной аппаратуры широко используются на космических летательных аппаратах. Цель – изучить влияние на параметры CCD-матриц локальных структурных повреждений кристаллической решетки отдельными ядерными частицами. Представлены зависимости темнового тока CCD-матриц от флюенса протонов в диапазоне до 2 $\cdot$ 10$^{11}$ cm$^{-2}$.