RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2010, том 36, выпуск 11, страницы 17–23 (Mi pjtf9519)

Эта публикация цитируется в 10 статьях

Нитрид алюминия на кремнии: роль промежуточного SiC слоя и технологии хлоридной газофазной эпитаксии

В. Н. Бессоловab, Ю. В. Жиляевab, Е. В. Коненковаab, Л. М. Сорокинab, Н. А. Феоктистовab, Ш. Шарофидиновab, М. П. Щегловab, С. А. Кукушкинab, Л. И. Метсab, А. В. Осиповab

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Институт проблем машиноведения РАН, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Предложен и экспериментально реализован новый подход к созданию методом хлоридной газофазной эпитаксии слоев AlN толщиной $\sim$0.1–10 $\mu$m на кремниевой подложке за счет формирования промежуточных тонких 3C-SiC слоев (100 nm).
Обнаружено, что на поверхности слоя AlN присутствуют волнообразные выпуклые полосы высотой порядка 40 nm, которые расположены в местах формирования блочной структуры слоя. Предполагается, что образование этих волнообразных структур вызвано морфологической неустойчивостью слоев AlN, возникающей в связи с ускоренным ростом в области границ блоков.
Экспериментально доказано, что при низких скоростях слои AlN растут посредством послойного (quasi-2D) механизма, который позволяет получить слои AlN с полуширинами кривой качания рентгеновской дифракции (0002) $\omega_\theta$ = 2100 arcsec.

Поступила в редакцию: 28.01.2010


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2010, 36:6, 496–499

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026