RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2010, том 36, выпуск 6, страницы 60–65 (Mi pjtf9455)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Об образовании отрицательных ионов в лазерном спектрометре приращения ионной подвижности

Г. Е. Котковский, А. В. Тугаенко, А. А. Чистяков

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", г. Москва

Аннотация: Предложен и реализован метод анализа малых концентраций молекул органических соединений в атмосфере, объединяющий спектрометрию приращения ионной подвижности (СПИП) и лазерную ионизацию. Использовалось импульсное излучение 4-й гармоники лазера YAG : Nd$^{3+}$ ($\lambda$ = 266 nm). Показано, что при высоких интенсивностях лазерного излучения ($q\sim$ 10$^7$ W/cm$^2$) наблюдаются ионные спектры с присутствием реактант-пиков, идентичные спектрам, полученным при использовании традиционных источников (на основе коронного разряда либо $\beta$-распада). При низких интенсивностях ($q\sim$ 10$^5$ W/cm$^2$) имеет место свободный от фоновых и реактант-пиков ионный спектр, что позволяет реализовать высокую степень селективности анализа. Сделан вывод о возможном изменении механизма образования отрицательных ионов молекул нитросоединений при изменении интенсивности ионизирующего лазерного излучения.

Поступила в редакцию: 29.09.2009


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2010, 36:3, 276–278

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026