Эта публикация цитируется в 7 статьях

Об определении эффективной фрактальной размерности нанопокрытий с помощью магнитного поля

С. Н. Григорьев, А. М. Мандель, В. Б. Ошурко, Г. И. Соломахо

Московский государственный технологический университет "Станкин"

Аннотация: Метод короткодействующего потенциала, изначально построенный для трехмерного случая, обобщен на евклидовы пространства произвольной (в том числе нецелевой) размерности. На основе данного метода выводится трансцендентное уравнение для энергии связи электрона в суперпозиции поля $n$-мерной $\delta$-ямы и внешнего магнитного поля. Осуждается возможность экспериментального определения фрактальной размерности нанопокрытия по характеру зависимости работы выхода поверхностного электрона от напряженности магнитного поля с помощью современных атомно-силовых микроскопов.

Поступила в редакцию: 04.07.2011

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2011, 37:12, 1176–1178

Реферативные базы данных:

•