RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2011, том 37, выпуск 24, страницы 35–41 (Mi pjtf9370)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Полевая эмиссионная микроскопия графена на иридиевом эмиттере

Д. П. Бернацкий, В. Г. Павлов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Визуализирована полевая электронная эмиссия с поверхности иридиевого эмиттера, покрытого монослойной пленкой графена. Из анализа полученных изображений следует, что полевая электронная эмиссия происходит с мест смыкания графеновых островков, доходящих в размерах до нескольких десятков nm. Интеркалирование пленки графена атомами щелочного металла (цезия) снижает работу выхода поверхности и не приводит к изменению полевого электронного изображения. Полевые десорбционные изображения, полученные в полях, исключающих поверхностную диффузию цезия, обнаруживают наличие субмонослойной концентрации цезия на дефектах смыкания графеновых островков.

Поступила в редакцию: 18.07.2011


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2011, 37:12, 1158–1160

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026