Аннотация:
Методами лазерной термоволновой диагностики иcследованы процессы теплопереноса в межсоединениях полупроводниковых диодных структур высоковольтных импульсных ключей-размыкателей, собранных по технологии “столбов”. Предложена теоретическая модель процессов распространения тепловых волн в подобных структурах с учетом технологических особенностей подготовки поверхностей полупроводниковых элементов, слоев спайки или сварки. Показано, что лазерные термоволновые методы позволяют диагностировать качество теплофизических контактов между элементами ключей-размыкателей при различных технологиях их соединений.