RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2011, том 37, выпуск 24, страницы 9–15 (Mi pjtf9367)

Технология формирования субмикронного поверхностного рельефа для эпитаксиальных структур GaAs с тонкими стоп-слоями AlGaAs

А. Г. Гладышевab, М. М. Кулагинаab, С. А. Блохинab, А. А. Красивичевab, Л. Я. Карачинскийab, А. П. Васильевab, Н. А. Малеевab, В. М. Устиновab

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)

Аннотация: Разработана базовая технология формирования субмикронного поверхностного рельефа в эпитаксиальных структурах GaAs, основанная на электронно-лучевой литографии. Высокая чувствительность характеристик вертикально-излучающего лазера к уровню оптических потерь позволяет использовать данную технологию для контроля модового состава и стабилизации поляризации излучения.

Поступила в редакцию: 24.06.2011


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2011, 37:12, 1145–1148

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026