Аннотация:
Показана возможность создания профильного распределения концентрации рекомбинационных центров в высоковольтных кремниевых $p^+Nn^+$-диодах путем обычного электронного облучения в определенном диапазоне энергий. Приводятся результаты исследования основных статических и динамических характеристик.