Аннотация:
Представлены результаты магнитооптических исследований влияния химической обработки на морфологию поверхности и локальные магнитные характеристики тонких пленок сплава FeN и тонкопленочных систем, состоящих из слоев оксида кремния и FeN субмикронной толщины. Обнаружено сильное влияние химического травления изучаемых образцов при наличии магнитного поля на морфологию их поверхностей и магнитные свойства. Найдено, что локальные значения поля насыщения и коэрцитивной силы химически обработанных тонкопленочных систем сильно различаются, что обусловлено появлением неоднородностей на поверхности образцов и, как следствие, усилением влияния полей рассеяния на измеряемые характеристики.