RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2012, том 38, выпуск 22, страницы 43–49 (Mi pjtf9008)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Влияние положения массива InGaAs квантовых точек на спектральные характеристики AlGaAs/GaAs фотопреобразователей

С. А. Блохинab, А. М. Надточийab, С. А. Минтаировab, Н. А. Калюжныйab, В. М. Емельяновab, В. Н. Неведомскийab, М. З. Шварцab, М. В. Максимовab, В. М. Лантратовab, Н. Н. Леденцовab, В. М. Устиновab

a Санкт-Петербургский физико-технический научно-образовательный центр РАН
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Приведены результаты сравнительных исследований внутреннего квантового выхода AlGaAs/GaAs фотоэлектрических преобразователей (ФЭП) при изменении расположения массива вертикально связанных квантовых точек (КТ) InGaAs. Вынос КТ-среды непосредственно на границу $i$-области с базой не вызывает изменений в чувствительности ФЭП по сравнению со случаем КТ в $i$-области. Однако вынос КТ в базу или к тыльному потенциальному барьеру приводит к снижению вклада базового слоя в спектры фототока ФЭП и деградации фоточувствительности КТ-среды.

Поступила в редакцию: 25.05.2012


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2012, 38:11, 1024–1026

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026