Эта публикация цитируется в 2 статьях

Новый подход в понимании механизмов дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии

Э. В. Суворов, И. А. Смирнова

Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна Российской академии наук, г. Черноголовка Московской обл.

Аннотация: Методами численного моделирования и экспериментальной секционной рентгеновской топографии изучены закономерности образования дифракционного изображения дислокаций. Изучение рассеяния рентгеновских лучей на неоднородностях кристаллической решетки представляет интерес по нескольким причинам. Во-первых, контраст дефектов связан с фундаментальной проблемой – развитием динамической теории рассеяния рентгеновского излучения в реальных кристаллах. Во-вторых, знание особенностей дифракции позволяет качественно, а в ряде случаев и количественно, анализировать рентгеновский дифракционный контраст дефектов кристаллической решетки [1–4] (измерять величины деформаций, определять знак и параметры вектора Бюргерса и пр.).

Поступила в редакцию: 09.07.2012

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2012, 38:11, 991–994

Реферативные базы данных:

•