RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2012, том 38, выпуск 17, страницы 69–77 (Mi pjtf8947)

Эта публикация цитируется в 15 статьях

Исследование стабильности кремниевых фотодиодов в вакуумном ультрафиолете

В. В. Забродский, В. П. Белик, П. Н. Аруев, Б. Я. Бер, С. В. Бобашев, М. В. Петренко, В. Л. Суханов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Проведено испытание кремниевых фотодиодов на стойкость к вакуумному ультрафиолетовому (ВУФ) излучению на длине волны 121.6 nm. Показано, что исследуемые фотодиоды, на основе $p$-$n$- и $n$-$p$-структур, обнаруживают деградацию чувствительности на уровне десятков процентов при дозах ВУФ-излучения порядка десятков mJ/cm$^2$. Наблюдался эффект обратимой релаксации фототока детекторов на основе $n$$p$-структур.

Поступила в редакцию: 16.04.2012


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2012, 38:9, 812–815

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026