Аннотация:
Исследованы электронные состояния системы "квантовая точка–монослой графена–подложка SiO$_2$+n$^+$Si". Получено аналитическое выражение для величины переходящего заряда в такой системе. Исследуемая система позволяет управлять оптическими свойствами квантовой точки с помощью приложенного электрического поля.