RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2012, том 38, выпуск 12, страницы 1–7 (Mi pjtf8878)

Эта публикация цитируется в 8 статьях

Электронные состояния системы "квантовая точка–монослой графена–подложка SiO$_2$+$n^+$Si"

З. З. Алисултановabc, Р. П. Мейлановabc, А. К. Нуховabc, Г. М. Мусаевabc, Э. И. Идаятовabc

a Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
b Институт проблем геотермии Дагестанского НЦ РАН, г. Махачкала
c Дагестанский государственный университет, г. Махачкала

Аннотация: Исследованы электронные состояния системы "квантовая точка–монослой графена–подложка SiO$_2$+n$^+$Si". Получено аналитическое выражение для величины переходящего заряда в такой системе. Исследуемая система позволяет управлять оптическими свойствами квантовой точки с помощью приложенного электрического поля.

Поступила в редакцию: 20.02.2012


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2012, 38:6, 552–554

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026