В. И. Алексеев, К. А. Вохмянина, А. Н. Елисеев, П. Н. Жукова, А. С. Кубанкин, Р. М. Нажмудинов, Н. Н. Насонов, В. В. Полянский, В. И. Сергиенко, “Обнаружение когерентных пиков поляризационного тормозного излучения релятивистских электронов в поликристалле в геометрии обратного рассеяния”, Письма в ЖТФ, 2012, том 38, выпуск 6,страницы 83

Эта публикация цитируется в 12 статьях

Обнаружение когерентных пиков поляризационного тормозного излучения релятивистских электронов в поликристалле в геометрии обратного рассеяния

В. И. Алексеев^ab, К. А. Вохмянина^ab, А. Н. Елисеев^ab, П. Н. Жукова^ab, А. С. Кубанкин^ab, Р. М. Нажмудинов^ab, Н. Н. Насонов^ab, В. В. Полянский^ab, В. И. Сергиенко^ab

^a Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва
^b Белгородский государственный национальный исследовательский университет

Аннотация: Выполнено экспериментальное измерение спектров рентгеновского поляризационного тормозного излучения (ПТИ) электронов в геометрии обратного рассеяния (ПТИ назад). Получены спектры при различной ориентации поликристаллической мишени меди относительно пучка электронов с энергией 7 MeV. Показана чувствительность ПТИ назад к наличию текстуры мишени. Рассматривается возможность разработки нового метода диагностики поликристаллических материалов, основанного на измерении характеристик когерентной составляющей ПТИ.

Поступила в редакцию: 08.11.2011