RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2012, том 38, выпуск 6, страницы 68–76 (Mi pjtf8805)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Структурное исследование тонких пленок фталоцианина меди методом спектроскопии анизотропного отражения

В. Л. Берковиц, А. Б. Гордеева, В. А. Кособукин, Е. И. Теруков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Представлены результаты исследования структуры тонких молекулярных пленок фталоцианина меди CuPc, сформированных на кристаллических GaAs(001) и стеклянных подложках. Показано, что применение метода спектроскопии анизотропного отражения позволяет определять ориентационную анизотропию молекулярных слоев CuPc. Обнаружено ориентирующее действие поверхности кристалла GaAs на молекулярную структуру пленок CuPc и отсутствие подобного эффекта в случае стеклянной подложки. Рассмотрена модель анизотропного отражения света, позволяющая удовлетворительно описать ориентационные особенности наблюдаемых спектров тонких пленок CuPc в зависимости от их толщины.

Поступила в редакцию: 27.11.2011


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2012, 38:3, 286–289

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026