RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2012, том 38, выпуск 1, страницы 27–36 (Mi pjtf8729)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Формирование границы раздела структуры Pd/Fe/GaAs/InGaAs для оптической регистрации спина свободных электронов

О. Е. Терещенкоa, А. Г. Паулишa, М. А. Неклюдоваa, Т. С. Шамирзаевa, А. С. Ярошевичa, И. П. Просвиринb, И. Э. Жаксылыковаa, Д. В. Дмитриевa, А. И. Тороповa, С. Н. Варнаковc, М. В. Рауцкийc, Н. В. Волковcd, С. Г. Овчинниковc, А. В. Латышевae

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Институт катализа им. Г. К. Борескова СО РАН, г. Новосибирск
c Институт физики им. Л. В. Киренского СО РАН, г. Красноярск
d Сибирский государственный аэрокосмический университет имени академика М. Ф. Решетнева, Красноярск
e Новосибирский государственный университет

Аннотация: Изучены условия формирования границы раздела Fe/GaAs, а также электрические, магнитные и оптические свойства гетероструктуры Pd/Fe/GaAs с квантовыми ямами InGaAs. Продемонстрирована возможность эпитаксиального роста Fe на поверхности GaAs(001) при комнатной температуре. Кривая намагниченности слоя железа имеет прямоугольную петлю гистерезиса с легкой осью намагниченности в плоскости образца. Обнаружена сегрегация железа через слой палладия толщиной 4 nm. Оптические свойства гетероструктуры Pd/Fe/GaAs/InGaAs указывают на возможность использования такой структуры в качестве оптического детектора спина свободных электронов.

Поступила в редакцию: 26.07.2011


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2012, 38:1, 12–16

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026