RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2013, том 39, выпуск 24, страницы 30–37 (Mi pjtf8667)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Особенности магнитных свойств Co/Si/Co тонкопленочных систем

Е. Е. Шалыгинаab, А. М. Харламоваab, А. А. Рожновскаяab, Г. В. Курляндскаяab, А. В. Сваловab

a Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
b Уральский федеральный университет, Екатеринбург

Аннотация: Представлены результаты исследования магнитных свойств Co/Si/Co тонкопленочных систем, полученных с помощью магнетронного распыления. Обнаружено, что поле насыщения изучаемых трехслойных образцов осциллирует по величине с изменением толщины кремниевого полупроводникового слоя. Полученные данные объяснены структурными особенностями Co/Si/Co образцов и наличием антиферромагнитного обменного взаимодействия между магнитными слоями через Si разделительный слой.

Поступила в редакцию: 27.06.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2013, 39:12, 1089–1092

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026