RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2013, том 39, выпуск 23, страницы 8–12 (Mi pjtf8651)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Полевая эмиссионная микроскопия поверхности полевого эмиттера на основе Ir–C–Cs

Д. П. Бернацкий, В. Г. Павлов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Методами полевой электронной и полевой десорбционной микроскопии исследованы эмиссионные свойства иридиевого полевого эмиттера с различными формами углерода (хемосорбированный углерод, двумерные графитовые структуры) и адсорбированного цезия на поверхности. Получены полевые электронные и полевые десорбционные изображения эмитирующей поверхности, соответствующие различным фазовым состояниям углерода. Обнаружено, что двумерные графитовые структуры преимущественно растут в области граней (100) и (111) иридия.

Поступила в редакцию: 21.06.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2013, 39:12, 1031–1033

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026