RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2013, том 39, выпуск 18, страницы 53–60 (Mi pjtf8598)

Эта публикация цитируется в 4 статьях

Исследование субмикронных полостей в углеситалле методом фокусированного ионного пучка

Р. Л. Волковab, Н. И. Боргардтab, В. Н. Кукинab, А. В. Агафоновab, В. О. Кузнецовab

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Москва, Зеленоград
b ЗАО "ТРИ Карбон", Москва, Зеленоград

Аннотация: Метод фокусированного ионного пучка применен для формирования серии параллельных сечений и последующей трехмерной визуализации полостей в углеситалле, измерениях их объемов и определения локальной пористости материала. На основе полученных данных оценена погрешность определения локальной пористости углеситалла по одному сечению. С использованием этих сечений установлено, что пористость в технологических заготовках углеситалла уменьшается по мере его роста в вертикальных коаксиальных реакторах.

Поступила в редакцию: 01.03.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2013, 39:9, 822–824

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026