RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2013, том 39, выпуск 12, страницы 71–78 (Mi pjtf8529)

Эта публикация цитируется в 5 статьях

Анизотропия дифракционных характеристик тонких пленок пиролитического графита

А. Г. Турьянский, С. С. Гижа, В. М. Сенков

Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, г. Москва

Аннотация: Исследованы полярные диаграммы и локальные дифракционные характеристики тонких пленок из высокоориентированного пиролитического графита (ВПГ), используемого для монохроматизации излучения и рентгеновской спектрометрии. Измерения проводились с помощью двухволнового рентгеновского рефлектометра. При угловом азимутальном сканировании исходных пленок ВПГ рентгеновским зондом с площадью сечения $<$ 0.1 mm$^2$ наблюдалась резкая анизотропия коэффициента дифракционного отражения. Показана возможность подавления влияния анизотропии, и обоснованы условия применения пленок ВПГ в качестве дисперсионного элемента для схем рентгеновской томографии и мэппирования, а также для исследования спектров по единичному импульсу рентгеновского лазера.

Поступила в редакцию: 13.02.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2013, 39:6, 573–575

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026