Эта публикация цитируется в 2 статьях

Влияние структуры поверхности на величину среднего перепада высот при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии

В. А. Новиков

Национальный исследовательский Томский государственный университет

Аннотация: Приведены результаты анализа зависимости среднего перепада высот от ширины области сканирования и структуры профиля поверхности в атомно-силовой микроскопии (АСМ). На примере среднего перепада высот показано, что при анализе АСМ-данных необходимо выделять локальные и глобальные статистические параметры. При этом локальные статистические параметры могут иметь значения большие, чем глобальные. Для приведенного примера определена функция скейлинга, которая позволяет связать несколько параметров эксперимента для прогнозирования величины среднего перепада высот.

Поступила в редакцию: 22.11.2012

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2013, 39:4, 347–349

Реферативные базы данных:

•