Эта публикация цитируется в 3 статьях

Измерение изгибной жесткости свободного графена с помощью электронной дифракции

Д. А. Кириленко<sup>ab

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^b University of Antwerp, BE-2020 Antwerpen, Belgium

Аннотация: Представлен способ измерения изгибной жесткости свободного графена по зависимости коротковолновой части спектра поперечных структурных флуктуаций кристалла. Спектр флуктуаций измеряется по вариации картин электронной дифракции, получаемых в просвечивающем электронном микроскопе, при наклоне образца.

Поступила в редакцию: 11.11.2012

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2013, 39:4, 325–328

Реферативные базы данных:

•