Аннотация:
На основе аналитического решения дисперсионного уравнения проведена оценка энергетического положения дна размерной подзоны в мелких сверхрешетках. Показано, что для верхних долин сверхрешеток GaAs/AlAs, используемых в гетероструктурах полевых транзисторов, глубина дна размерной подзоны относительно верха барьера находится на уровне 0.11–0.13 eV.