Д. А. Кириленко, А. А. Ситникова, А. В. Кремлёва, М. Г. Мынбаева, В. И. Николаев, “Анализ дефектов упаковки в нитриде галлия с использованием преобразования Фурье высокоразрешающих изображений”, Письма в ЖТФ, 2014, том 40, выпуск 24,страницы 60

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Анализ дефектов упаковки в нитриде галлия с использованием преобразования Фурье высокоразрешающих изображений

Д. А. Кириленко^a, А. А. Ситникова^a, А. В. Кремлёва^ab, М. Г. Мынбаева^acd, В. И. Николаев^acd

^a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
^c ООО "Совершенные кристаллы", г. Санкт-Петербург
^d Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики

Аннотация: Приведены результаты исследования дефектов упаковки в нитриде галлия по изображениям просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения с помощью преобразования Фурье. Показано, что данный метод позволяет не только определять тип дефекта упаковки, но и измерять непосредственно вектор смещения. Это позволило объяснить особенности контраста на электронно-микроскопических изображениях структур с высокой плотностью дефектов упаковки (более 10$^6$ cm$^{-1}$). Обнаружено, что компонента вектора смещения в плоскости (0001) в таких структурах может заметно отличаться от ожидаемой величины $\frac{1}{3}[01\bar{1}0]$, свойственной одиночным дефектам.

Поступила в редакцию: 07.08.2014