Аннотация:
Описывается оригинальная методика определения величин напряженностей испаряющих полей $F_{ev}$ для полевых эмиттеров. Методика является универсальной и пригодна для любых эмиттеров, в том числе и для наноразмерных выступов, выращенных на поверхности таких эмиттеров для усиления локализации эмиссии. Приведены примеры определения величин $F_{ev}$ для эмиттеров из некоторых металлов и проанализированы ограничения методики.