Аннотация:
Проведены численный расчет распределения электрического поля и плотности заряда в $p$–$i$–$n$-диоде при прямом смещении, а также экспериментальные исследования этих характеристик с помощью ближнеполевого СВЧ-микроскопа. Показана принципиальная важность учета зависимости коэффициента диффузии носителей заряда от электрического поля при описании процессов, протекающих в $p$–$i$–$n$-диодах. Численные результаты качественно согласуются с экспериментом.