Вузовско-академический отдел нелинейной оптики Института электрофизики УрО РАН и Южно-уральского государственного университета, г. Челябинск
Аннотация:
Предложен и экспериментально продемонстрирован новый способ получения изображения с разрешением, превышающим дифракционный предел микроскопа. При помощи регистрации картины свободного движения микрочастиц над поверхностью образца и анализа интенсивности света, рассеиваемого частицами, удалось повысить предельное разрешение используемого микроскопа в 3 раза.