Ф. Т. Туякова, Е. А. Образцова, Д. В. Клинов, Р. Р. Исмагилов, “Монокристаллические алмазные зонды для атомно-силовой микроскопии”, Письма в ЖТФ, 2014, том 40, выпуск 13,страницы 27

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Монокристаллические алмазные зонды для атомно-силовой микроскопии

Ф. Т. Туякова^abcd, Е. А. Образцова^abcd, Д. В. Клинов^abcd, Р. Р. Исмагилов^abcd

^a Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики
^b Институт биоорганической химии им. академиков М. М. Шемякина и Ю. А. Овчинникова РАН, г. Москва
^c Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, г. Москва
^d Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова

Аннотация: Представлены результаты по созданию и тестированию прочных, химически инертных и высокоострых монокристаллических алмазных зондов для атомно-силовой микроскопии. Зонды изготавливались на основе алмазных пирамидальных монокристаллов, полученных с помощью селективного окисления поликристаллических пленок, выращенных методом газофазного осаждения. Разработана методика закрепления одиночных игл на балках кремниевых зондов. С помощью просвечивающего электронного микроскопа установлено, что угол при вершине алмазных пирамидальных кристаллитов составляет порядка 10$^\circ$, радиус закругления вершины алмазного кристаллита – 2–10 nm. На примере двух тестовых образцов (поверхности графита и молекул ДНК) показано, что изготовленные алмазные зонды могут эффективно использоваться в атомно-силовой микроскопии и позволяют улучшить качество изображений по сравнению со стандартными кремниевыми зондами.

Поступила в редакцию: 23.12.2013