RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2014, том 40, выпуск 12, страницы 52–58 (Mi pjtf8184)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Окисление тонкой пленки самария на иридии

Е. Ю. Афанасьева

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Методом термодесорбционной спектроскопии изучено взаимодействие тонкой ($<$ 1 nm) пленки самария, напыленной на текстурированную иридиевую ленту, с кислородом. Десорбция атомов Sm с иридия происходит из различных состояний (хемосорбированного, конденсированного, из соединения с иридием, из оксида). Образование оксида наблюдается уже при комнатной температуре. С повышением температуры ($T$ = 1100 K) сначала происходит образование соединения самария с иридием, затем кислород взаимодействует с атомами Sm из соединения и происходит “медленный” (по сравнению с первым процессом) рост оксида.

Поступила в редакцию: 23.01.2014


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2014, 40:6, 520–522

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026