А. В. Макаревич, В. В. Шепелевич, П. И. Ропот, В. Н. Навныко, С. М. Шандаров, “Экспериментальное исследование ориентационной зависимости дифракционной эффективности пропускающих голограмм от толщины кристалла Bi$_{12}$SiO$_{20}$”, Письма в ЖТФ, 2015, том 41, выпуск 19,страницы 46

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Экспериментальное исследование ориентационной зависимости дифракционной эффективности пропускающих голограмм от толщины кристалла Bi$_{12}$SiO$_{20}$

А. В. Макаревич^a, В. В. Шепелевич^a, П. И. Ропот^b, В. Н. Навныко^a, С. М. Шандаров^c

^a Мозырский государственный педагогический университет им. И. П. Шамякина
^b Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, г. Минск
^c Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники

Аннотация: Выполнено экспериментальное исследование зависимости дифракционной эффективности пропускающих голограмм, сформированных в образце фоторефрактивного пьезокристалла Bi$_{12}$SiO$_{20}$ фиксированной толщины, от ориентационного угла и толщины образца. Дана теоретическая интерпретация полученных экспериментальных данных.

Поступила в редакцию: 28.04.2015