RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2015, том 41, выпуск 13, страницы 56–63 (Mi pjtf7765)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Контроль качества композитных дифракционных элементов с возможностью визуализации дефектов отдельных компонент

А. М. Ляликов

Гродненский государственный университет им. Я. Купалы

Аннотация: Обоснована возможность разделения информации о дефектах подложки и периодической микроструктуры при их визуализации для композитного дифракционного элемента. Впервые показано, что с использованием двухлучевого интерферометра, дополненного оптической системой пространственной фильтрации, для такого дифракционного элемента возможно раздельное отображение в интерференционных картинах как макроскопических дефектов подложки, так и самой дифракционной микроструктуры.

Поступила в редакцию: 10.02.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2015, 41:7, 641–643

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026