Эта публикация цитируется в 6 статьях

Подавление рэлей-тейлоровских неустойчивостей в $Z$-пинчах

А. С. Жигалин^a, А. Г. Русских^a, Р. Б. Бакшт^a, С. А. Чайковский^a, Н. А. Лабецкая^a, В. И. Орешкин<sup>ab

a</sup> Институт сильноточной электроники СО РАН, г. Томск
^b Томский политехнический университет

Аннотация: Эксперименты по исследованию стабильности сжатия $Z$-пинчей проводились при токе 450 kA со временем нарастания 450 ns. Плазменная оболочка пинчей формировалась с помощью испарения материала электродов при горении вакуумной дуги. Для подавления рэлей-тейлоровских (РТ) неустойчивостей использовался режим горения дуги на поверхности одного из электродов высоковольтного промежутка, в котором располагается пинч. В результате свободного истечения плазмы радиальное распределение плотности формировалось таким образом, что концентрация плазмы нарастала от внешней границы по направлению к оси оболочки. Эксперименты показали, что такое начальное радиальное распределение плотности обеспечивает практически полное подавление РТ-неустойчивости.

Поступила в редакцию: 16.01.2015

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2015, 41:6, 554–556

Реферативные базы данных:

•