RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2015, том 41, выпуск 9, страницы 71–79 (Mi pjtf7710)

Эта публикация цитируется в 6 статьях

Фотоэлектрические свойства массива аксиальных нитевидных нанокристаллов GaAs/AlGaAs

Р. В. Григорьевa, И. В. Штромabc, Н. Р. Григорьеваa, Б. В. Новиковa, И. П. Сошниковbcde, Ю. Б. Самсоненкоbdc, А. И. Хребтовb, А. Д. Буравлевadc, Г. Э. Цырлинadcf

a Научно-исследовательский институт физики им. В. А. Фока Санкт-Петербургского государственного университета
b Санкт-Петербургский Академический университет РАН
c Институт аналитического приборостроения РАН, г. Санкт-Петербург
d Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
e Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
f Санкт-Петербургский государственный политехнический университет

Аннотация: Представлены исследования фотоэлектрических свойств массива GaAs/Al$_x$Ga$_{1-x}$As ($x\approx$ 0.3) аксиальных нитевидных нанокристаллов $n$-типа, выращенных с помощью метода молекулярно-пучковой эпитаксии на $p$-типа кремниевой подложке. Выявлена возможность эффективного разделения зарядов в широком спектральном диапазоне (от 450 до 1100 nm), что актуально для создания активного элемента в фотоприемных устройствах и солнечных батареях.

Поступила в редакцию: 04.11.2014


 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2015, 41:5, 443–447

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026