Аннотация:
С помощью приставки, разработанной для спектрофлуориметра, измерена кинетика in situ фотообразования и термического отжига центров окраски в фотохромной керамике рутила. Нагрев с постоянной скоростью позволил получить спектры отжига центров окраски и оценить глубину ловушек электронных дырок, ответственных за отжиг центров окраски.