Эта публикация цитируется в 10 статьях

Спектральные характеристики пленок хрома нанометровой толщины в терагерцовом диапазоне частот

В. Г. Андреев^a, А. А. Ангелуц^a, В. А. Вдовин^b, В. Ф. Лукичев<sup>c

a</sup> Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова
^b Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, Москва
^c Физико-технологический институт им. К.А. Валиева РАН

Аннотация: Проведены исследования оптических коэффициентов (коэффициентов отражения, прохождения и поглощения) тонких пленок хрома на кварцевой подложке. Измерения выполнены с использованием импульсного источника терагерцового излучения. Получены спектральные зависимости оптических коэффициентов в диапазоне частот 0.25–1.1 THz. Представлены зависимости оптических коэффициентов от толщины пленки на частоте 1 THz. Зарегистрирован максимум коэффициента поглощения 43% при толщине пленки 10 nm.

Поступила в редакцию: 10.09.2014

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2015, 41:2, 180–183

Реферативные базы данных:

•