Исследование структуры композитного материала “фуллерен–квантовые точки” на подложках с прозрачным электродом

С. И. Павлов^a, Д. А. Кириленко^ab, А. В. Нащекин^a, Р. В. Соколов^a, С. Г. Конников<sup>a

a</sup> Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
^b Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва

Аннотация: Представлено исследование структуры пленок, состоящих из кластеров фуллеренов, а также композитного материала на их основе с внедренными квантовыми точкам. Пленки получены методом электрофоретического осаждения из раствора на стеклянные подложки с прозрачным электродом на основе оксида олова, легированного индием. Методами электронной микроскопии определены размеры полученных кластеров: 300 nm для чистых фуллеренов и 800 nm для композитного материала. Методом электронной дифракции показано, что кластеры чистых фуллеренов формируют кристаллическую структуру с решеткой типа ГЦК, а при введении квантовых точек фуллерены образуют преимущественно аморфную матрицу.

Поступила в редакцию: 16.07.2014

 Англоязычная версия: Technical Physics Letters, 2015, 41:2, 172–174

Реферативные базы данных:

•