Аннотация:
Выполнено численное моделирование переключения высоковольтного GaAs-диода в проводящее состояние в режиме задержанного ударно-ионизационного пробоя. Проведено сравнение результатов с экспериментальными данными. Показано, что эффект длительного (до 100 ns) самоподдержания проводящего состояния диода после переключения обусловлен возникновением в электронно-дырочной плазме узких (порядка микрометра) ионизирующих доменов Ганна – так называемых коллапсирующих доменов. Ударная ионизация в коллапсирующих доменах и в краевых (катодном и анодном) доменах сильного электрического поля ($\sim$ 300 kV/cm) поддерживает высокую концентрацию неравновесных носителей ($\ge$ 10$^{17}$ сm$^{-3}$) в течение всей длительности импульса приложенного напряжения обратной полярности.
Ключевые слова:
высоковольтные GaAs-диоды, lock-on эффект, эффект Ганна.
Поступила в редакцию: 28.07.2022 Исправленный вариант: 01.09.2022 Принята в печать: 01.09.2022