Аннотация:
Рассмотрена задача о встречном четырехволновом взаимодействии на фазовых голографических решетках в кубическом фоторефрактивном поглощающем кристалле класса симметрии 23. Исследована зависимость коэффициента отражения от толщины кристаллического образца. Установлены условия, при которых оптимизированное по азимуту линейной поляризации световых волн значение коэффициента отражения достигает наибольших значений. Проанализировано влияние величин фазовых сдвигов между голографическими решетками и соответствующими им интерференционными картинами на интенсивность обращенной волны.