Аннотация:
С помощью специально созданного времяпролетного масс-рефлектрона с нагревательным элементом внутри прибора, позволяющим нагревать твердые образцы и анализировать выделяющиеся из них газы, исследованы защитные графитовые плитки, покрывающие практически всю обращенную к плазме поверхность вакуумной камеры токамака Глобус-М2. Масс-спектрометрический анализ позволил определить состав выделяющихся газов, оценить их количества и таким образом количественно охарактеризовать качество очистки и дегазации плиток. Показано, что в результате примененного способа обработки плиток в разы уменьшилось содержание легкого изотопа водорода (протия), воды, окиси и двуокиси углерода, а также практически до нуля снизилось содержание дейтерия и изотопов гелия.