RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Письма в Журнал технической физики // Архив

Письма в ЖТФ, 2023, том 49, выпуск 14, страницы 34–37 (Mi pjtf7032)

Масс-спектрометрический контроль процесса очистки и дегазации защитных графитовых плиток токамака Глобус-М2

Н. Н. Аруев, А. Н. Новохацкий, П. А. Романов, Н. В. Сахаров, С. В. Филиппов, П. Б. Щёголев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: С помощью специально созданного времяпролетного масс-рефлектрона с нагревательным элементом внутри прибора, позволяющим нагревать твердые образцы и анализировать выделяющиеся из них газы, исследованы защитные графитовые плитки, покрывающие практически всю обращенную к плазме поверхность вакуумной камеры токамака Глобус-М2. Масс-спектрометрический анализ позволил определить состав выделяющихся газов, оценить их количества и таким образом количественно охарактеризовать качество очистки и дегазации плиток. Показано, что в результате примененного способа обработки плиток в разы уменьшилось содержание легкого изотопа водорода (протия), воды, окиси и двуокиси углерода, а также практически до нуля снизилось содержание дейтерия и изотопов гелия.

Ключевые слова: защитный графитовый слой, времяпролетный масс-рефлектрон, масс-спектр, токамак.

Поступила в редакцию: 17.03.2023
Исправленный вариант: 22.05.2023
Принята в печать: 22.05.2023

DOI: 10.21883/PJTF.2023.14.55824.19559



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026