Аннотация:
Исследованы процессы управляемого текстурирования пленок ZnO на $r$-плоскости Al$_2$O$_3$ с буферным слоем золота с учетом свободного потенциала при магнетронном осаждении и интерференционные явления в них. Показано, что в зависимости от положения подложки в объеме разряда могут формироваться как гладкие [001]-текстурированные, так и шероховатые битекстурированные пленки ZnO. Классическая интерференционная картина наблюдается только в гладких текстурированных пленках. Синтезированные прозрачные пленочные структуры на основе ZnO в перспективе могут быть использованы в качестве интерференционных сенсоров для оценки показателя преломления окружающей среды.