Аннотация:
Изучены пространственные распределения ионов (K$^{+}$, Na$^{+}$), прошедших через тонкие монокристаллические пленки Al толщиной от 180 до 600 $\mathring{\mathrm{A}}$, и критические углы каналирования. Энергия ионов варьировалась в пределах $E_{0}$ = 10–30 keV. Показано, что увеличение энергии пучка первичных ионов приводит к уменьшению ширины максимумов углового распределения, что связано с уменьшением критического угла каналирования $\psi_{cr}$. Установлено, что $\psi_{cr}$ для осевого каналирования не превышает 4–5$^\circ$, а для плоскостного каналирования – 9–10$^\circ$.
Полный текст:
PDF файл (295 kB)